電容電壓（C-V）特性測試儀

電容電壓（C-V）特性測試儀  型號：KCV-300

1．概述 
KCV-300型電容電壓（C-V）特性測試儀是測試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測試儀器。于測量半導體器件PN結(jié)勢壘在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。 
儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數(shù)，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為0.01V，漏電流分辨率為0.01μA。 
該測試儀器性能穩(wěn)定可靠，功能齊全，精度高，操作簡單，于元件生產(chǎn)廠家，科研部門，高等院校等單位。 
2. 技術參數(shù) 
      （1）測試信號頻率：1.000MHz±0.01% 
      （2）測試信號電壓：≤100mVrms 
      （3）測量速率：慢3次/秒，快5次/秒 
      （4）測量范圍： 
  電容C：0.001-10000 pF 
  漏電流：0.1-199.9μA 
      （5）直流偏壓：儀器自帶偏壓0.01-35V，可外接偏壓源拓展，Z大偏壓輸入為100V 
      （6）預熱時間：30min 
      （7）供電電源： 
  交流電壓：220V±10% 
  頻率：50Hz±5% 
  消耗功率：≤40W 
      （8）工作環(huán)境 
                  溫度：0-40℃ 
                  濕度：20%-90%RH 
      （9）外形尺寸：400mm×135mm×450mm（寬×高×深） 
      （10）儀器重量：10Kg